취업정보실

서울대학교 기초과학공동기기원 연구원 상시 채용공고

작성자
시설연구소지원팀
작성일
2021-03-02
조회
578

서울대학교 기초과학공동기기원은 첨단 연구장비와 기기의 공동활용을 통한 대학의 기초과학 연구역량의 고양과 국제적인 연구경쟁력 확보라는 목표아래 1988년에 설립되어, 서울대학교 본부 부속시설로서 교육과학기술부와 서울대학교의 적극적인 지원 아래 국제경쟁력을 갖춘 전문 분석 지원 기관으로 도약하기 위해 노력하고 있습니다.


본 공동기기원은 특히 경험이 풍부한 석, 박사급 전문 연구원들을 전자현미경팀, 표면ㆍX선 구조분석팀, 무기ㆍ물성분석팀, 유기ㆍ생물분석팀 등에 전담 배치하여 다양한 기초과학 분야를 망라하는 첨단장비(4450/334억원 규모)들과 전문 연구원들의 정밀측정 및 분석 능력으로 기초과학 융합의 터전이 되어가고 있습니다.


위와 같이 연구를 지원하기 위한 연구장비를 운영/관리하고 이러한 연구장비의 활용(분석)지원 및 유관기관 또는 전문가와 연계한 지원사업을 기획/수행/관리할 유능한 전문 연구원(석사급 이상)을 채용하고자 합니다.


 


구분

담당업무

인원

모집분야

관련전공

서류접수

공통

우대사항

연구장비 운영

- 연구장비 운영/관리


- 유관기관 연계 지원사업 기획/수행/관리

저온실험


유경험자

O명

전자현미경


표면·X선 구조분석


무기·물성분석


유기·생물분석

장비 관련

상시채용


- 근무기간 : 임용일 ~ 2021.


 


참고로 기초과학공동기기원에 구축된 분야별 연구장비는 다음과 같습니다.


분야

장비명

제조사

모델명

국문명

영문명

전자현미경

구면수차보정 투과전자현미경

Cs corrected TEM with Cold FEG

JEOL Ltd

JEM-ARM200F

구면수차보정 주사투과전자현미경

Cs corrected STEM with Cold FEG

JEOL Ltd

JEM-ARM200F

전계방사 투과전자현미경

Field Emission TEM

JEOL Ltd

JEM-F200

고분해능 투과전자현미경

High Resolution - Transmission Electron Microscope

JEOL Ltd

JEM-3010

투과전자현미경

Transmission Electron Microscope II

JEOL Ltd

JEM-2100

전계방사 주사전자현미경

Field Emission Scanning Electron Microscope

JEOL Ltd

JSM-7800F Prime /


JSM-6700F

전계방사 전자현미분석기

Field Emission Electron Probe Microanalyzer

JEOL Ltd

JXA-8530F

이온빔집속장치

Focused Ion Beam

Thermo Fisher

Helios 650 /


Helios G4

나노밀

NANO MILL

Fischione

M1040

SEM 이온밀

SEM MILL

Fischione

M1060

전자현미경전처리장비

Sample Preparation System for microscope

Struers

LaboPol-30

미니 주사전자현미경

BENCHTOP Scanning Electron Microscope


 

JEOL Ltd

JCM-6000

표면


X


선구조분석

비행시간형 이차이온질량분석기

Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer

ION-TOF

TOF.SIMS-5

표면분석장치

Electron Spectroscopy for Chemical Analysis

Thermo Fisher/


Kratos

SIGMA PROBE/


AXIS SUPRA

고분해능 X-선 회절 분석기

High Resolution X-ray Diffractomer

Rigaku

SmartLab

분말 X-선 회절 분석기

Powder X-ray Diffractometer

Rigaku

SmartLab

단결정


X-선 회절분석기

Single Crystal X-Ray Diffractometer

Rigaku

XtaLAB PRO

유기생물분석

850MHz


핵자기 공명 분광기

Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 850MHz

Bruker

AVANCE III HD

600MHz


핵자기 공명 분광기

Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 600MHz

Bruker

AVANCE III-600

500MHz


핵자기 공명 분광기

Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 500MHz

Bruker

AVANCE III-500

300MHz


핵자기 공명 분광기

Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 300MHz

Bruker

AVANCE III HD

500MHz 고체상 핵자기공명 분광기

500MHz Solid NMR System

Bruker

AVANCE III HD

원소 분석기

Elemental Analyzer

Thermo Fisher

Flash2000

기체 크로마토그래피 고분해능 질량분석기

Gas Chromatography High Resolution Mass Spectrometer

JEOL /


Agilent

JMS-700 /


6890 Series

기체 크로마토그래피 탠덤 질량분석기

Gas Chromatography Tandem Mass Spectrometer system

Thermo Fisher

TSQ 8000 Evo / TRACE 1310

LC/LTQ-Orbitrap 질량분석기

Liquid Chromatography /LTQ-Orbitrap Mass Spectrometer

Thermo Fisher

LTQ Orbitrap Velos

고분해능 거대질량 분석기

Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization Mass Spectrometer

Applied Biosystems/


AB SCIEX

MALDI TOF Voyager DE-STR/


MALDI TOF-TOF 5800 System

현미경 적외선 분광기

Microscope Infrared Spectrometer

Perkin Elmer

Spotlight 400

푸리에 변환 적외선 분광기

FT-IR Fourier Transform Infrared Spectrometer

Bruker

TENSOR27

공초점레이저주사현미경

Confocal Laser Scanning Microscope

Carl Zeiss

LSM710

초고해상도 현미경시스템

Super resolution microscope

Carl Zeiss

ELYRA PS.1

초고속 유세포 분리기

Automated High-speed Flow Cytometry System

BD Biosciences

FACS AriaII

GAMMA 조사기 감마선 조사기

Gammacell Low dose-rate research irradiator

MDS Nordion

GC 3000 Elan

액체 크로마토그래피 비행시간차 질량분석기

ColdSpray LC-TOF-MS

JEOL

JMS-T100LP 4G

무기물성분석

고분해능 3차원 X선 이미징 시스템

High resolution 3D X-ray tomography microscope system

Carl Zeiss

Xradia 620 Versa

유도결합 플라즈마 방출 분광기

ICP-Atomic Emission Spectrometer

Perkin Elmer

OPTIMA 8300

유도결합 플라즈마 질량분석기

ICP-Mass Spectrometer

Perkin Elmer

NexION 350D

다중검출유도결합플라즈마 질량분석기

Multi Collector ICP-Mass Spectrometer

Nu Instruments

Plasma 3

파장분산형 X선 형광 분석기

Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer

Shimadzu/


Bruker

XRF-1700/


S8 TIGER

물리적 특성 분석장치

Physical Property Measurement System

Quantum Design

PPMS-14

라만분광기

Raman Spectrometer

HORIBA/


Thermo

T64000/


DXR2xi

계면 특성 분석 시스템

Surface And Interfacial Characterizing Analysis System

Daipla Wintes

SAICAS EN-EX


 


역량 있는 분들의 많은 관심과 지원을 부탁드립니다.


감사합니다.


 


❏ 공통 응시자격


- 공무원 인사규정에 결격사유가 없는 자


 


❏ 전형방법


- 1차 서류 전형


- 2차 면접 전형


 


❏ 제출서류


- (필수)입사지원서 및 자기소개서 1부(해당분야 실무경력 및 특기사항 등을 상세히 기술)


※ 임의 양식


- (서류 전형합격 시) 최종학교졸업(예정)증명서, 경력증명서 등 각종 증빙서류(해당자에 한함)


※ 제출서류는 스캔본이나 파일로 변환하여 메일로 담당자에게 제출 예정


※ 증빙서류는 입사지원서 접수 마감일을 기준으로 최근 3개월 이내 발급한 것만 유효함


 


❏ 서류접수 마감 및 접수처


- 서류접수 기간: 상시 채용


- 접수방법: 담당자 이메일 (daeykim@snu.ac.kr)


 


❏ 기 타


- 적격자가 없는 경우 채용하지 않을 수 있습니다.


- 최종 합격자의 출근일정은 합격 통보일을 기준으로 1~4주 이내에서 부서일정에 따라 조율될 예정입니다.


- 제출된 서류는 반환되지 않습니다.부정합격자는 그 사실이 확인된 즉시 합격 및 임용이 취소됩니다.


* 최근 5년 내 다른 공공기관에서 부정한 방법으로 채용된 사실이 적발되어 채용이 취소된 사 람은 채용이 취소된 날로부터 5년간 응시 불가합니다.


- 경력 및 학력사항을 허위 또는 고의로 누락하여 기재한 사실이 밝혀질 경우, 채용이 취소될 수 있습니다.


- 문의처: 서울대학교 기초과학공동기기원 행정실 [Tel.(02)880-5430,6499]


2021년 1월 19일


서울대학교 기초과학공동기기원장